کشف خواص الکترونیکی مواد ۸۵ برابر سریع‌تر شد

به گزارش خبرگزاری علم و فناوری آنا به نقل از ام آی تی نیوز، مهندسان مؤسسه فناوری ماساچوست (ام‌آی‌تی) یک تکنیک بینایی کامپیوتری جدید را توسعه داده‌اند که شناسایی مواد الکترونیکی نوترکیب را تسریع می‌کند.

دانشمندان از ابزارهای کامپیوتری هوشمند برای کشف مواد جدید استفاده می کنند و در حال توسعه ماشین‌هایی هستند که می‌توانند نمونه‌های زیادی از مواد را در یک زمان بسازند.؛ اما تاکنون، بررسی مفید بودن این مواد جدید پس از ساخته شدن دشوار بوده است. اکنون، مهندسان ام آی تی به روش جدیدی رسیده‌اند که به رایانه‌ها آموزش می‌دهد با مشاهده تصاویر مواد الکترونیکی جدید بررسی کنند که این مواد نوترکیب تا چه حد کارایی مفید خواهند داشت.

این روش می‌تواند تصاویر نمونه‌های نیمه‌رسانای چاپ‌شده را تجزیه و تحلیل کند و ویژگی‌های الکترونیکی حیاتی مانند شکاف باند و پایداری را با سرعت ۸۵ برابر سریع‌تر از روش‌های معمولی تخمین بزند.

این پیشرفت، ظرفیت بالایی برای جستجوی مواد کاربردی پیشرفته را دارد که برای بهبود عملکرد سلول‌های خورشیدی، ترانزیستورها، ال ای دی‌ها و باتری‌ها ضروری است. این تکنیک نویدبخش انقلابی در فرآیند غربالگری مواد با ادغام آن با ابزارهای هوش مصنوعی است و راه را برای یک سیستم کاملاً خودکار غربالگری مواد هموار می‌کند.

هدف کار آینده این تیم استفاده از این تکنیک‌ها در فضاهای کاربردی گسترده است تا برای توسعه انرژی‌های تجدیدپذیر و ترانزیستورها راه حل‌های نوین ارائه دهد.