در دهمین نمایشگاه فناوری نانو معرفی شد؛
دستگاه اندازه‌گیری قطر ذرات نانو
دکتر سپهر اربابی، مدیر فنی سابق رصد خانه ملی ایران، با طراحی و ساخت دستگاه اندازه‌گیری قطر ذرات نانو در دهمین جشنواره فناوری نانو شرکت کرده‌است.
به گزارش گروه علم و فناوری آنا، این دستگاه با روش «داینامیک لایت اسکترینگ» یا «پراکندگی دینامیکی نور» قطر ذرات نانو را اندازه‌گیری می‌کند. در این روش نور لیزر با توان بالا به طور متمرکز روی محلول حاوی ذرات نانو تابیده می‌شود و در زوایای مختلف پراکنده می‌شود.
نور پراکنده شده در تمامی جهات وجود دارد اما این دستگاه پراکندگی نور را در زاویه 90 درجه اندازه‌گیری می‌کند. نور پراکنده شده خاصیت همبستگی دارد؛ این دستگاه با اندازه‌گیری ثابت خودهمبستگی نور و با در نظر گرفتن پارامتر دما و خاصیت وشکسانی قطر ذرات نانو را به دست می‌آورد.
در حال حاضر نمونه اولیه این دستگاه ساخته شده است که قادر به اندازه‌گیری از قطر یک تا 1000نانومتر است. به گفته دکتر اربابی، این دستگاه در صنایع مختلفی از جمله داروسازی، رنگ، پزشکی، شیمی و فیزیک کاربرد دارد.
دهمین نمایشگاه فناوری نانو از 14 تا 17 مهر امسال در محل دائمی نمایشگاه‌های بین المللی تهران برگزار شد.
انتهای پیام/
