صفحه نخست

آموزش و دانشگاه

علم‌وفناوری

ارتباطات و فناوری اطلاعات

سلامت

پژوهش

علم +

سیاست

اقتصاد

فرهنگ‌ و‌ جامعه

ورزش

عکس

فیلم

استانها

بازار

اردبیل

آذربایجان شرقی

آذربایجان غربی

اصفهان

البرز

ایلام

بوشهر

تهران

چهارمحال و بختیاری

خراسان جنوبی

خراسان رضوی

خراسان شمالی

خوزستان

زنجان

سمنان

سیستان و بلوچستان

فارس

قزوین

قم

کردستان

کرمان

کرمانشاه

کهگیلویه و بویراحمد

گلستان

گیلان

لرستان

مازندران

مرکزی

هرمزگان

همدان

یزد

هومیانا

پخش زنده

دیده بان پیشرفت علم، فناوری و نوآوری
۱۳:۲۸ - ۲۰ مهر ۱۳۹۶
در دهمین نمایشگاه فناوری نانو معرفی شد؛

دستگاه اندازه‌گیری قطر ذرات نانو

دکتر سپهر اربابی، مدیر فنی سابق رصد خانه ملی ایران، با طراحی و ساخت دستگاه اندازه‌گیری قطر ذرات نانو در دهمین جشنواره فناوری نانو شرکت کرده‌است.
کد خبر : 220169

به گزارش گروه علم و فناوری آنا، این دستگاه با روش «داینامیک لایت اسکترینگ» یا «پراکندگی دینامیکی نور» قطر ذرات نانو را اندازه‌گیری می‌کند. در این روش نور لیزر با توان بالا به طور متمرکز روی محلول حاوی ذرات نانو تابیده می‌شود و در زوایای مختلف پراکنده می‌شود.



نور پراکنده شده در تمامی جهات وجود دارد اما این دستگاه پراکندگی نور را در زاویه 90 درجه اندازه‌گیری می‌کند. نور پراکنده شده خاصیت همبستگی دارد؛ این دستگاه با اندازه‌گیری ثابت خودهمبستگی نور و با در نظر گرفتن پارامتر دما و خاصیت وشکسانی قطر ذرات نانو را به دست می‌آورد.


در حال حاضر نمونه اولیه این دستگاه ساخته شده است که قادر به اندازه‌گیری از قطر یک تا 1000نانومتر است. به گفته دکتر اربابی، این دستگاه در صنایع مختلفی از جمله داروسازی، رنگ، پزشکی، شیمی و فیزیک کاربرد دارد.


دهمین نمایشگاه فناوری نانو از 14 تا 17 مهر امسال در محل دائمی نمایشگاه‌های بین المللی تهران برگزار شد.


انتهای پیام/

برچسب ها: هانا حیدری
ارسال نظر